請問下,CH32V203xx的雙ADC如果工作在獨(dú)立模式,并且ADC1和ADC2都對同一個外部通道進(jìn)行采樣,這樣是否會有沖突?
或者假如ADC1配置了連續(xù)掃描模式,其中包含了外部通道1,然后ADC2以不同的配置(配置了不同的PGA增益)再去掃描外部通道1,這樣會有沖突發(fā)生嗎?
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