如題，在使用例程測(cè)量MCU內(nèi)部傳感器的溫度的時(shí)候，打印出來(lái)的溫度隨風(fēng)槍的加熱而降低了。程序如下（與例程一致）：

打印內(nèi)容如下：

ADC-Val:1725
mv-T-1389,27
ADC-Val:1721
mv-T-1386,26
ADC-Val:1706
mv-T-1374,24
ADC-Val:1691
mv-T-1362,22
ADC-Val:1680
mv-T-1353,20
ADC-Val:1667
mv-T-1343,17
ADC-Val:1657
mv-T-1334,15
ADC-Val:1648
mv-T-1327,13
ADC-Val:1639
mv-T-1320,12
ADC-Val:1631
mv-T-1314,10
ADC-Val:1624
mv-T-1308,9
ADC-Val:1617
mv-T-1302,8

測(cè)量方法：熱風(fēng)槍設(shè)為100℃，遠(yuǎn)距離緩慢加熱MCU，觀(guān)察現(xiàn)象

懷疑有可能是庫(kù)函數(shù)TempSensor_Volt_To_Temper();有問(wèn)題

您好，感謝你的反饋，關(guān)于該問(wèn)題，新版EVT已修改，將該函數(shù)按照下圖修改一下即可解決問(wèn)題