您好，我想問一下，ch32F103這款芯片的ADC采樣精度，不同芯片之間的誤差是多少？

我目前對(duì)同一塊項(xiàng)目樣板，分別使用了4片Ch32F103芯片進(jìn)行測(cè)試，（共使用5個(gè)通道，其中一個(gè)通道采集一個(gè)90mV的方波信號(hào)）對(duì)于同一個(gè)90mV信號(hào)，有兩片能采樣很準(zhǔn)確，另外兩片采樣值均小20mV左右，這個(gè)是正常現(xiàn)象嗎？還是我ADC使用方法有問題，望大佬解惑

備注：ADC初始化部分使用的官方例程，AD時(shí)鐘為12M，單次掃描模式+DMA轉(zhuǎn)換，采集5個(gè)通道，采樣保持時(shí)間配的71.5個(gè)采樣周期，1mS采集64次。

您好，關(guān)于ADC，在我們EVT例程中，在進(jìn)行ADC初始化的時(shí)候會(huì)獲得一個(gè)ADC校準(zhǔn)值，在后面對(duì)ADC采樣值的處理中，會(huì)結(jié)合該校準(zhǔn)值對(duì)ADC采樣值進(jìn)行校準(zhǔn)處理，可參考EVT例程中的處理方法，再測(cè)試一下看看。

好的，我再測(cè)試一下看，謝謝