新手有個問題 CH573啟用外部32K晶振,如何對RTC進行校準(zhǔn)

我是個新手,自己在學(xué)的? 我想問一下 CH573啟用外部32K晶振,如何對RTC進行校準(zhǔn),有沒有具體的例程

外部32K一般都是幾十ppm的,不用校準(zhǔn);

如果使用內(nèi)部的32K,可以使用ch57x_clk.c里面的Calibration_LSI_RAM和Calibration_LSI_FLASH 進行32K的校準(zhǔn)。


謝謝? 我還有個問題,內(nèi)部和外部 ,RTC用哪個能夠更準(zhǔn)確


使用外部晶振更加準(zhǔn)確,因為晶振受到的干擾較小。如果對頻率要求不高的話,可以使用內(nèi)部晶振。還有一點需要注意,見圖片。1.png


借樓 問個問題,在啟用外部32k晶振的時候,SDK中的這兩個校準(zhǔn)還有必要打開嗎?

?【TEMPERATION】

?TEM_SAMPLE? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?- 是否打開根據(jù)溫度變化校準(zhǔn)的功能,單次校準(zhǔn)耗時小于10ms( 默認(rèn):TRUE )

?

?【CALIBRATION】

?BLE_CALIBRATION_ENABLE? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?- 是否打開定時校準(zhǔn)的功能,單次校準(zhǔn)耗時小于10ms( 默認(rèn):TRUE )

?BLE_CALIBRATION_PERIOD? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?- 定時校準(zhǔn)的周期,單位ms( 默認(rèn):120000 )

另外問一下使用內(nèi)外部晶振功耗上有區(qū)別嗎?


啟用外部32K晶振直接通過宏開啟就可以,這里的校準(zhǔn)選擇保持默認(rèn)不變。

使用內(nèi)外部晶振功耗上沒有區(qū)別,外部晶振的誤差更小。



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