似乎內(nèi)部溫度采樣不太準(zhǔn)確，下面是測試的溫度和實際代碼

測量芯片部分有26.7度，實際輸出是-1~2度左右。

??UINT8?i;
??signed?short?RoughCalib_Value?=?0;????//?ADC粗調(diào)偏差值

??SetSysClock(?CLK_SOURCE_PLL_60MHz?);

??/*?配置串口調(diào)試?*/
??DebugInit();
??PRINT(?"Start?@ChipID=%02X\n",?R8_CHIP_ID?);

??/*?溫度采樣并輸出，?包含數(shù)據(jù)校準(zhǔn)?*/
??PRINT(?"\n1.Temperature?sampling...\n"?);
??ADC_InterTSSampInit();
??RoughCalib_Value?=?ADC_DataCalib_Rough();?//?用于計算ADC內(nèi)部偏差，記錄到變量?RoughCalib_Value中，注意這個變量需要定義為有符號變量
??for(?i?=?0;?i?<?20;?i++?)
??{
????abcBuff[i]?=?ADC_ExcutSingleConver()?+?RoughCalib_Value;??????//?連續(xù)采樣20次
??}
??for(?i?=?0;?i?<?20;?i++?)
??{
????PRINT(?"%d?\n",?ADC_GetCurrentTS(abcBuff[i]));
??}

自己頂一下

目前的EVT中的溫度轉(zhuǎn)換公式的斜率將之改為兩倍之后，變化率的問題可以解決，溫度絕對值上的偏差需要根據(jù)實際溫度進(jìn)行修正。