ADC使用之前官方例程中有對(duì)ADC做粗校準(zhǔn)，這需要一個(gè)AIN輸入腳必須懸空，這個(gè)芯片本來(lái)GPIO就不多，這樣要使用ADC必須拿出來(lái)一個(gè)腳懸空比較浪費(fèi)。

我這邊之前項(xiàng)目涉及到用ADC測(cè)量鋰電池電壓(0.0v~4.35v)，因?yàn)榫刃枰赃€有會(huì)有一個(gè)通道AIN測(cè)量1.250v基準(zhǔn)源（TL432基準(zhǔn)源），這樣用基準(zhǔn)源反算鋰電池電壓會(huì)比較準(zhǔn)確

如果用我上面的辦法專門一路1.250v基準(zhǔn)源輸入反算鋰電池電壓，那么不做粗校準(zhǔn)會(huì)對(duì)CH573系列新品的ADC準(zhǔn)確度有明顯的影響嗎？【核心問題是我這邊IO口比較緊張，不想浪費(fèi)一個(gè)IO專門用來(lái)懸空丟著，做AD粗校準(zhǔn)用】

以下是官方例程↓

?/* 單通道采樣：選擇adc通道0做采樣，對(duì)應(yīng) PA4引腳， 帶數(shù)據(jù)校準(zhǔn)功能 */

? PRINT( "\n2.Single channel sampling...\n" );

? GPIOA_ModeCfg( GPIO_Pin_4, GPIO_ModeIN_Floating );

? ADC_ExtSingleChSampInit( SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0 );

? GPIOA_ModeCfg( GPIO_Pin_5, GPIO_ModeIN_Floating );

? RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough(); // 用于計(jì)算ADC內(nèi)部偏差，記錄到全局變量 RoughCalib_Value中

? PRINT( "RoughCalib_Value =%d \n", RoughCalib_Value );

你好，如果有基準(zhǔn)電源，是可以通過基準(zhǔn)電源來(lái)校準(zhǔn)采樣電壓的，這樣可以不用進(jìn)行粗校準(zhǔn)。