提個(gè)問題:晶振校準(zhǔn) 573和579的step為什么不一樣,而且579的按照注釋寫的公式算也不等于-3
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CH592: RISC-V內(nèi)核BLE5.4無(wú)線MCU
提個(gè)問題:晶振校準(zhǔn) 573和579的step為什么不一樣,而且579的按照注釋寫的公式算也不等于-3
ch579 與CH573 最高主頻不一樣的,跑BLE時(shí)候的典型主頻也不一致32M 與60Mhz的差別.
而校準(zhǔn)低頻RC時(shí)候的采樣原理是一樣的:5個(gè)RTC時(shí)鐘周期的高頻clk的次數(shù),
這樣一來,主頻越高,采樣的高頻clk的次數(shù)越高,對(duì)誤差的分辨率也更細(xì).
至于兩個(gè)校準(zhǔn)函數(shù)中的CNT_STEP_K,?定義類型并不相同(整形與浮點(diǎn)型),其參與運(yùn)算的方式并不相同,所以不同.
校準(zhǔn)函數(shù)每次sdk更新時(shí),可能會(huì)根據(jù)累積的實(shí)際使用中的反饋結(jié)果進(jìn)行微調(diào)(主要是優(yōu)化功耗之類).