芯片采用的是CH573F,芯片供電電壓為2.5V，休眠關(guān)閉。AD采集設(shè)置

AD_batter_ModeCfg(GPIO_AD_batter, GPIO_ModeIN_Floating);

ADC_ExtSingleChSampInit(SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0);

RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough();

ADC_ChannelCfg(AD_batter);

for(i = 0; i < number; i++)

? ? {

? ? ? ? abcBuff[i] = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value;? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? // 連續(xù)采樣20次

? ? }

硬件電路如下：

BAT電壓在3-3.6V時(shí)，ADC_BAT端萬用表測(cè)量的電壓還是準(zhǔn)確的，為BAT的一半。當(dāng)BAT電壓調(diào)至2.5V時(shí)，ADC_BAT處的電壓就變?yōu)?.8V了，我查看了R8_ADC_CFG寄存器的數(shù)值為0X23，設(shè)置時(shí)正常的，請(qǐng)問這是什么原因?qū)е碌模?/span>

可以減小分壓電阻在進(jìn)行測(cè)試，測(cè)獲取的電壓值是否正常

供電電壓越低，分壓電阻我用兩個(gè)1K，后面的10k用0Ω，測(cè)試是可以的，我的這個(gè)系統(tǒng)考慮低功耗，還有什么辦法嗎？