CH32V307進行 SDIO例程測試的時候程序卡死

CH32V307進行 SDIO例程測試的時候程序卡死在SD_Error FindSCR函數(shù)中這是為什么呢?從其他帖子中看到是因為SDIO和網(wǎng)口的IO沖突了,需要去掉R7,那么去掉R7。那么若是想同時讀寫SD卡和使用網(wǎng)口是否只能采取外界phy或著使用SPI讀寫SD卡呢?

使用的板子是CH32V307VCT6核心板單片機開發(fā)板 32位RISCV控制器 支持RT-Thread-tmall.com天貓

您好,若使用例程為CH32V307EVT SDIO例程,正常程序是不會有問題的,需要注意一下工程文件(ld文件、啟動文件、宏定義)配置,如下圖1。注意SDIO引腳硬件連接,如SCK引腳外,其他SDIO引腳建議接47K上拉電阻。若要同時使用SDIO和以太網(wǎng),需要外接PHY,外接PHY模塊需要使用RGMII接口或RMII接口,這樣不會產(chǎn)生引腳沖突。在我們EVT例程中有對應(yīng)的RGMII接口和RMII接口例程。關(guān)于引腳沖突以及你使用的測試板,可參考另一帖的回復(fù)。后續(xù)若有問題,建議通過郵箱(lzs@wch.cn)和我溝通

http://www.findthetime.net/bbs/thread-89155-1.html?

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圖1


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